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GMS-1000眩光測量系統(tǒng)采用高精度成像亮度計,通過精密電控云臺和專用測控軟件實現(xiàn)了統(tǒng)一眩光指數(shù)UGR的高精度測量分析,除此之外還分析UGR TI GR 等參數(shù),應用于室內(nèi)外光污染檢測,測量穩(wěn)定性好,速度快,且系統(tǒng)體積小、重量輕。系統(tǒng)自帶電池,無需外部供電,使用USB線和電腦相連即可測試。
特點:
1、基于成像亮度計分析眩光
采用高精度成像亮度計,測量照明場景中各點的亮度,并根據(jù)理論公式計算眩光指標。
2、 多重曝光技術,高靈敏度測量,動態(tài)范圍寬
亮度測量低至0.001cd/m2,采用多重曝光技術,得到高動態(tài)圖像(HDR),可對亮度跨度范圍較大的室內(nèi)外環(huán)境進行準確測量。
3、 低畸變大視場測量
本系統(tǒng)采用精密云臺帶動成像亮度計多角度測試,摒棄了魚眼鏡頭測量大視場時的高度畸變問題,可實現(xiàn)高達2π的全空間低畸變亮度圖像測量。
4、 高分辨率、高角度精度
獲取的亮度圖像無論是靠近觀察角度的視場中心位置還是周邊區(qū)域,都保持了高分辨率和高角度精度,較好地避免了魚眼鏡頭周邊分辨率較低的問題。
5、強大的軟件功能,同時滿足室內(nèi)和室外眩光測試要求
可實現(xiàn)TI、UGR、GR等室內(nèi)外眩光指標的測量。
眩光測量系統(tǒng)
1、設備預期用途:
用于教室照明、室內(nèi)照明、道路照明、體育場館照明、戶外照明等照明場景的眩光值UGR/GR/TI的測試以及計算。
2、設備配置:
儀器標配包括:成像亮度計,軟件,專業(yè)云臺,專用三腳架等
附加配件:可攜帶可防護外箱。操作手冊,常用操作工具;系統(tǒng)還原數(shù)據(jù)、軟件備份;出廠合格證等
系統(tǒng)V(λ )修正水平:f1’<3%;
? COMS 尺寸:11×7mm對角 (1/1.2寸)
? 像元尺寸: 5.86 μm × 5.86 μm
? 像素:230萬
? 分辨率: 1920×1200
? 亮度范圍 :0.01cd/m2 ~ 100kcd/m2)
? 亮度精度 :±5%
? 亮度重復性 :±3%
? 積分時間: 0.05ms~10s
? 通訊接口: USB3.0
? 鏡頭焦距 :12mm (其他焦距可選配)
? 廣角鏡頭視場角:水平50.2°,垂直32.6°
4、軟件功能:包含UGR軟件,此外,還可輸出燈具眩光指標、亮度等參數(shù)
一、眩光測試系統(tǒng)技術參數(shù)
測試UGR 針對室內(nèi)室外眩光值、GR 針對體育場、球場眩光值
二、產(chǎn)品優(yōu)勢:
GMS-1000眩光測量系統(tǒng)采用高精度成像亮度計,通過精密電控云臺和測控軟件實現(xiàn)了統(tǒng)一眩光指數(shù)UGR的高精度測量分析,除此之外還分析UGR TI GR 等參數(shù),應用于室內(nèi)外光污染檢測,測量穩(wěn)定性好,速度快,且系統(tǒng)體積小、重量輕。系統(tǒng)自帶電池,無需外部供電,使用USB線和電腦相連即可測試。
● 眩光的評價指標是根據(jù)照明應用環(huán)境測試得出的相關評價算法。本系統(tǒng)能實現(xiàn)室內(nèi)照明、室內(nèi)不舒適眩光-UGR的測量。其它算法模型可定制。
三、產(chǎn)品特點:
1、基于成像亮度計分析眩光
采用高精度成像亮度計,測量照明場景中各點的亮度,并根據(jù)理論公式計算眩光指標。
2、 多重曝光技術,高靈敏度測量,動態(tài)范圍寬
亮度測量低至0.001cd/m2,采用多重曝光技術,得到高動態(tài)圖像(HDR),可對亮度跨度范圍較大的室內(nèi)外環(huán)境進行準確測量。
3、 低畸變大視場測量
本系統(tǒng)采用精密云臺帶動成像亮度計多角度測試,摒棄了魚眼鏡頭測量大視場時的高度畸變問題,可實現(xiàn)高達2π的全空間低畸變亮度圖像測量。
4、 高分辨率、高角度精度
獲取的亮度圖像無論是靠近觀察角度的視場中心位置還是周邊區(qū)域,都保持了高分辨率和高角度精度,較好地避免了魚眼鏡頭周邊分辨率較低的問題。
5、強大的軟件功能,同時滿足室內(nèi)和室外眩光測試要求
可實現(xiàn)TI、UGR、GR等室內(nèi)外眩光指標的測量。
電控云臺180°旋轉(zhuǎn)測量、230萬像素面陣CMOS傳感器、亮度誤差±5%
亮度范圍0.001-2000-200000-20000000cd/m2
● 眩光指視野中由于不適宜亮度分布,或在空間或時間上存在特別的亮度對比度,以致引起視覺不舒適和降低物體可見度的視覺條件。
● 眩光測試系統(tǒng)針對室內(nèi)照明、照明現(xiàn)場眩光進行測量評價。滿足CIE 115、GB/T 5700、GB 50034-2013、JGJ/T163-2008等標準要求。